近日，電科芯片所屬西南設(shè)計(jì)牽頭制定的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《半導(dǎo)體集成電路-射頻發(fā)射器/接收器測(cè)試方法》正式實(shí)施。

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器和接收器的電特性測(cè)試方法的基本原理和測(cè)試程序，適用于具有接收功能、發(fā)射功能、收發(fā)一體功能的一次變頻射頻發(fā)射器/接收器，標(biāo)志著公司在射頻測(cè)試領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)化建設(shè)方面邁上新臺(tái)階。

下一步，電科芯片將緊跟集成電路發(fā)展趨勢(shì)與行業(yè)痛點(diǎn)，持續(xù)加強(qiáng)對(duì)國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的研究、編制及實(shí)施推廣工作，為集成電路領(lǐng)域的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)化貢獻(xiàn)力量。

（來(lái)源：電科芯片）